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Albedo PTP同步網路效能測試3
https://www.kalwave.com/ 威易通股份有限公司
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Albedo

Albedo PTP同步網路效能測試

Albedo的核心專業技術包括 PTP、SyncE、GbE、10GbE、E1/T1、Jitter、OTDR、Cable Test、QoS和SLA技術,這些技術可以藉由WAN模擬器、TAPs、測試器、時鐘和系統中完全實現。















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Albedo的核心專業技術包括 PTP、SyncE、GbE、10GbE、E1/T1、Jitter、OTDR、Cable Test、QoS和SLA技術,這些技術可以藉由WAN模擬器、TAPs、測試器、時鐘和系統中完全實現。

Albedo Telecom是國際知名的測試儀器和網路設備製造商。協助研發單位、實驗室、電力公司、移動通訊和電信運營商安裝基礎設施和建設,可針對基於語音、視頻和資料的所有應用進行測試。 Albedo提供技術諮詢和培訓服務,在世界各地超過82個國家和地區擁有直接銷售和代表。


xGenius

ALL-IN-ONE Tester:

Ethernet/PTP IEEE-1588/SyncE/T1/E1/E0/Datacom/C37.94/OWD


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xGenius 是一款攜帶型多功能測試器,配備大型8 英吋觸控式螢幕,方便結果分析。適合工程師在實驗室或現場使用,配備了 IP / Ethernet / PTP (IEEE-1588)/ SyncE / T1 / E1 / E0 / C37.94 和 Datacom 介面,可經由電池供電,重量僅有1.9kg。

該裝置能夠測試高達10Gb/s 的傳輸和同步網路,它支援主/從PTP 模擬和多種操作模式。包括所有介面的性能、品質、單向延遲和漂移(Wander)測試等。內建Rubidium銣時鐘和採用GNSS 振盪器提供最高的精度,並在保持模式(Holdover Mode)下繼續完美工作。提供10GbE雙埠 (Dual-Port)測試器,仍可以增加其他介面透過簡單的升級,就能夠獲得新功能的支援。


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同步乙太網 PTP 和 SyncE 測試

  • PTP profiles: Telecom and Power
  • Encapsulations: Ethernet and UDP
  • Clock emulation: Master / Slave, Unicast/Multicast, 128 packet/s
  • PDV capture, protocol analysis and correction field support


Internal Clock Reference

  • Rubidium clock , Accuracy better than +/- 5.0e-11(0.05 ppb)
  • OCXO better than +/-0.1ppm


Ethernet PTP Frequency testing

  • Floor Delay Population (G.8260): FPC, FPR, FPP
  • Wander: Analysis and Generation TIE, MTIE and TDEV (in real time)

Ethernet PTP Phase testing

  • Measured at GbE and 1pps interfaces
  • Time Error (TE): Maximum (max |TE|), Dynamic (dTE), Constant (cTE)


1 pps testing

  • Wander: TIE, MTIE, TDEV
  • Time Error (TE): Maximum (max |TE|)


Synchronous Ethernet

  • ESMC / SSM: Generation, decoding and transparent forwarding
  • Wander: Analysis/Generation: TIE, MTIE and TDEV (in real time)



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C37.94 testing

Operation Modes

  • Unframed or framed operation
  • Clock: Recovered or Internal
  • End point or terminal mode
  • Results with PASS/FAIL indications


Analysis & Generation

  • Bit Rate generation in steps of nx64 kb/s up to 768 kb/s
  • BER test
  • ITU-T G.821 performance test
  • Event Detection / Insertion
  • Defects: LOS, AIS, LOF, RDI, LSS, All 0, All 1
  • Anomalies: FAS, TSE, Slip


Delay & Freq. Tests

  • Round Trip Delay (ms)
  • One-way Delay synchronized with GPS
  • Frequency (Hz)
  • Frequency Deviation (ppm), max. Deviation


Jitter and Wander analysis

  • Peak to peak, RMS, jitter, hits detection and count
  • MTIE and TDEV resolution: 100 ps
  • Pass / Fail based on standard masks


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